一、岳一科技

岳一科技供應(yīng)光學全檢機、視覺檢測設(shè)備、六面外觀檢測設(shè)備、人工智能檢測設(shè)備等晶圓缺陷檢測相關(guān)設(shè)備，其信用指數(shù)為61，已通過認證并有1項證書榮譽。

二、岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

設(shè)備優(yōu)勢方面

其提供的晶圓缺陷檢測設(shè)備市場前景廣闊，隨著半導體產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展（如5G、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)等新興技術(shù)推動）、晶圓質(zhì)量要求不斷提高以及檢測設(shè)備技術(shù)不斷進步，需求不斷增長。

該公司的晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng)相比傳統(tǒng)檢測方法具有高效性（自動化檢測，提高效率和準確性）、精度高（采用高分辨率光學成像技術(shù)檢測微小缺陷）、可靠性強（數(shù)字化處理技術(shù)消除人為誤判等問題）、成本低（采用數(shù)字化技術(shù)，無需大量人力物力）、適應(yīng)性強（適應(yīng)不同類型晶圓）等優(yōu)勢。

設(shè)備功能方面

能夠檢測晶圓表面的缺陷和污染物，如磨損、劃痕、光柵缺陷和霧點等，檢測后可進行修復、清潔、曝光等步驟以確保晶圓品質(zhì)。

可以快速準確地檢測晶圓表面缺陷，避免缺陷擴散，提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)量，還能精確控制工藝參數(shù)（通過實時監(jiān)測晶圓表面情況為后續(xù)制程工藝提供反饋），穩(wěn)定產(chǎn)品品質(zhì)（減少人為因素影響）。

設(shè)備維護方面

設(shè)備需要具備良好的可維護性和可升級性，其晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng)的使用壽命受使用頻率、環(huán)境濕度、溫度和灰塵積累等因素影響，一般在3 – 5年左右，可通過定期保養(yǎng)（如清潔光源、攝像頭等零部件）來延長壽命。