傳統(tǒng)缺陷檢測(cè)方法為人工目視檢測(cè)法，這種人工視覺(jué)檢測(cè)方法需要在強(qiáng)光照明條件下進(jìn)行，不僅對(duì)檢測(cè)人員的 眼睛傷害很大，且存在主觀性強(qiáng)、人眼空間和時(shí)間分辨率有限、檢測(cè)不確定性大、易產(chǎn)生歧義、效率低下等缺點(diǎn)， 已很難滿足現(xiàn)代工業(yè)高速、高分辨率的檢測(cè)要求。

隨著電子技術(shù)、圖像傳感技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展，利用基于光學(xué)圖像傳感的表面缺陷自動(dòng)光學(xué)（視覺(jué)） 檢測(cè)技術(shù)取代人工目視檢測(cè)表面缺陷，已逐漸成為表面缺陷檢測(cè)的重要手段，因?yàn)檫@種方法具有自動(dòng)化、非接觸、 速度快、精度高、穩(wěn)定性高等優(yōu)點(diǎn)、

目的：檢測(cè)眼鏡面上的污點(diǎn)，劃傷，波紋，氣泡等缺陷

標(biāo)準(zhǔn)：按缺陷分別為優(yōu)品級(jí)，良好，合格

優(yōu)品級(jí)：A部Φ35以內(nèi)，B部Φ35-Φ55，C部AB區(qū)以外

良好品：A部Φ30以內(nèi)，B部Φ30-Φ50，C部AB區(qū)以外

合格品：A部Φ30以內(nèi)，B部Φ30-Φ50，C部AB區(qū)以外

(每個(gè)規(guī)格按不同級(jí)別的不同缺陷大小和數(shù)量來(lái)定義，例如優(yōu)級(jí)是B部白點(diǎn)缺陷大小為0.05mm的 出現(xiàn)一個(gè))

檢測(cè)方案

凹點(diǎn)(疊痕)

氣泡

磨傷(劃傷)

脫模(波紋)

檢測(cè)結(jié)果：

搜集大量的缺陷特征后檢測(cè)出99.5%缺陷。

優(yōu)級(jí)中A部晶點(diǎn)和白點(diǎn)等10微米級(jí)的缺陷是因?yàn)橐淮纬上襁^(guò)程中光源導(dǎo)致的問(wèn)題無(wú)法成像。

附加測(cè)試:在微弱的環(huán)境變化下仍可以通過(guò)深度學(xué)習(xí)檢查出劃傷，波紋，氣泡，雜物等特征，添加不同規(guī)格的樣品后明顯的缺陷也可以判斷缺陷分類。

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