一、檢測(cè)內(nèi)容及要求檢測(cè)內(nèi)容: 最大尺寸長30mm*寬15mm的產(chǎn)品的尺寸檢測(cè)

序號(hào) 檢測(cè)位置 檢測(cè)方式 是否可檢
1 針腳臺(tái)階尺寸 背光檢測(cè) 可檢
2 倒角位置 不可檢
3 斜面位置 不可檢

注明:IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)項(xiàng)目,均需在影像下清晰可見才能檢測(cè)。檢測(cè)效率:每分鐘檢測(cè)數(shù)量 不低于150件(取決于產(chǎn)品送料速度)

二、設(shè)備組成及主要機(jī)構(gòu)設(shè)備型號(hào):INTED-T300非標(biāo)定制機(jī) 外形尺寸:900*800*1850mm 組成部件清單:

序號(hào) 部件名稱 規(guī)格型號(hào) 數(shù)量 備注
1 視覺檢測(cè)軟件 盈泰德視覺檢測(cè) 1套 數(shù)據(jù)可上傳
2 工業(yè)電腦 盈泰德定制 1套
3 顯示器 PHILIPS19”液晶顯示器 1臺(tái)
4 工業(yè)相機(jī) Barsler工業(yè)相機(jī) 1套
5 相機(jī)調(diào)節(jié)伺服模組 盈泰德定制 1套
6 工業(yè)鏡頭 FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 1套
7 光源 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 1套
8 檢測(cè)平臺(tái) 專業(yè)光學(xué)玻璃載臺(tái) 1套
9 伺服電機(jī) 松下·PANASONIC 1套
10 控制系統(tǒng) 盈泰德定制 1套
11 PLC運(yùn)動(dòng)協(xié)作 松下·PANASONIC 1套

三、樣件測(cè)試圖片:
頂部背光檢測(cè)原圖(G8301909-102-LFS1):

IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)
頂部背光檢測(cè)良品分析圖(G8301909-102-LFS1):OK
IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)頂部背光檢測(cè)原圖(G8340010-001-LFS1):

IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)

頂部背光檢測(cè)良品分析圖(G8340010-001-LFS1):OK

IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)

頂部背光檢測(cè)原圖(34475-001-LFS1):

IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)

頂部背光檢測(cè)良品分析圖(34475-001-LFS1):OK

IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)
頂部背光檢測(cè)原圖(LED-45188551-LF):

IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)
頂部背光檢測(cè)良品分析圖(LED-45188551-LF):OK
IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)頂部背光檢測(cè)原圖(TS1025186-00-AS1):
IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)
頂部背光檢測(cè)良品分析圖(TS1025186-00-AS1):OK

IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)
頂部背光檢測(cè)原圖(G8386152-003-AS1):

IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)
頂部背光檢測(cè)良品分析圖(G8386152-003-AS1):OK
IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)
頂部背光檢測(cè)原圖(P1071964-S1):

IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)

頂部背光檢測(cè)良品分析圖(P1071964-S1):OK

IC芯片自動(dòng)化視覺檢測(cè)電容電阻尺寸方案-機(jī)器視覺_視覺檢測(cè)設(shè)備_3D視覺_缺陷檢測(cè)

如果你的工業(yè)生產(chǎn)線中需要用到自動(dòng)化視覺檢測(cè)技術(shù),那么不妨和我們盈泰德科技聊聊,我們會(huì)免費(fèi)從一個(gè)專業(yè)的角度來給你一個(gè)合適的方案,即使沒達(dá)成合作,我們也希望能多認(rèn)識(shí)個(gè)朋友。